原位分析技術(Original Position Analysis，OPA)是對被分析物件的原始狀態的化學成分和結構進行分析的一項技術。在金屬材料中大面積範圍內，採用火花光譜單次放電數位解析技術，通過對無預燃、連續掃描激發的火花放電所產生的光譜信號進行直接放大和高速資料獲取，從而得到樣品表面不同位置的原始狀態下的化學成分和含量以及表面的結構的資訊，進而實現樣品的成分以及狀態定量分析。
| 頻率 | 500Hz | 電感 | 120H | 電壓 | 400V |
| 光學系統 | 巴邢 - 龍格系統 | 焦距 | 750mm | 譜線範圍 | 120~800nm |
| 解析度 | 優於 0.01nm | 掃描系統 | 懸臂式 XY 軸聯動 | 行程 | X 軸 300mmY 軸 300mmZ 軸 150mm |
| 驅動方式 | 全數字式交流伺服驅動 | 位置重複精度 | 0.1mm | 傳動方式 | 滾珠絲杠 |
| 電源要求 | 220V 單相 16A 2.5KV | 外形尺寸 | 1452mm×1367mm×860mm | 重量 | 約 600Kg |